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          FEI FIB雙束掃描電鏡技術(shù)優(yōu)勢

          時間:2022-12-27  點(diǎn)擊次數(shù):2811

          ● 高性能的Elstar電子束鏡筒結(jié)合UC+單色器的技術(shù), 實現(xiàn)了亞納米級的SEM 和S/TEM圖像分辨率

          ● 杰出的低kV Phoenix離子束性能使TEM樣品制備時可以達(dá)到只有亞納米級的 損傷

          ● 可以通過多達(dá)5個集成束內(nèi)和透鏡下探測器獲得清晰的、精細(xì)的、免費(fèi)的 對比圖像

          ● MultiChem氣體輸送系統(tǒng)為在雙光束平臺下電子和離子束誘導(dǎo)沉積和刻蝕 提供了最先進(jìn)的技術(shù)支持。

          ● EasyLift EX 納米操 作手能夠精確的、定點(diǎn)的制備超薄TEM薄片,同時提高 了用戶的信任度和產(chǎn)量

          ● STEM 4 探測器在TEM薄片樣品上提供了出色的分辨率和對比度

          ● 來自Thermo Fisher Scientific 在雙光束應(yīng)用內(nèi)失效分析領(lǐng)域內(nèi)的世界級 的專業(yè)知識的支持

           

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